Temat: embedded - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Simple distributed system hardware platform for basic research
Autorzy:: Krzywicki, K.
Andrzejewski, G.
Tematy:: distributed systems
embedded systems
simple hardware platform
microcontrollers; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/114714.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: This paper presents the simple distributed system hardware platform for basic research. It allows to study the different variants and aspects of the data exchange or synchronization methods in distributed systems. Moreover, the platform has the ability to implement distributed embedded systems. The modularity of a system allows for fast reconfiguration of the platform, such as the exchange of end modules. Therefore, it is possible to make quick changes and verify the system operation.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym
Transient fault simulation in a satellite microcontroller
Autorzy:: Iwiński, M.
Sosnowski, J.
Tematy:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded systems
microcontrollers
fault simulation
reliability; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/155157.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: W wielu zastosowaniach mikrokontrolerów należy brać pod uwagę wpływ na ich pracę błędów przemijających (zakłócenia elektromagnetyczne, promieniowanie kosmiczne itp.). Artykuł przedstawia metodę badania odporności na błędy przemijające w mikrokontrolerach. Bazuje ona na opracowanej platformie symulatora sprzężonego z obiektem badanym poprzez interfejs RS232C. Technika ta została zweryfikowana w badaniu mikrokon-trolera przeznaczonego do sterowania zasilaniem pokładowym satelity. W artykule przedstawiono wyniki eksperymentów oraz wskazano możliwości programowego zwiększania odporności na błędy.
In many microcontroller applications the impact of transient faults (electromagnetic disturbances, cosmic radiation, etc.) on their operation has to be taken into account. The paper presents a new methodology of testing transient fault robustness in microcontrollers. It is based on the developed fault injection platform which is coupled to the tested object via RS 232C interface. A tested object (microcontroller) cooperates with real or modelled environment (partially controlled by a simulator). This technique has been successfully applied to testing a microcontroller used for managing the satellite on-board power subsystem (solar cells, batteries, power accumulation and distribution), Many transient fault simulation experiments have been performed and their results interpreted. In particular, there has been analysed the impact of faults on correct control flow of the program. Some simple fault detection and error recovery mechanisms have been included in the considerations. The presented methodology can be easily extended for other microcontrollers and communication interfaces. Time and code overheads are negligible so the simulation results are quite realistic.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Gas-flow computer with SBST
Komputerowy przelicznik przepływu gazu z wbudowanym SBST
Autorzy:: Mosdorf, M.
Grochowski, K.
Sosnowski, J.
Gawkowski, P.
Tematy:: systemy wbudowane
mikrokontrolery
symulacja błędów
niezawodność
embedded systems
microcontrollers
fault simulation
reliability; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/156571.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: The paper deals with the problem of improving dependability in industrial embedded systems. This problem is considered in relevance to the developed gas flow computer. It is implemented around ARM microcontroller which performs complex measurements and calculations of gas flow with embedded software based self-test mechanisms (SBST) assuring fault detection and fault handling. These mechanisms do not interfere with the normal operation neither in time nor in space. The effectiveness of these approaches has been practically verified in specialised experiments.
Ostatnio obserwuje się coraz większe zainteresowanie inteligentnymi urządzeniami pomiarowymi. Wykorzystują one bardzo wydajne mikroprocesory lub mikrokontrolery i złożone oprogramowanie. Urządzenia te zwykle pracują w środowisku przemysłowym lub otwartym terenie, gdzie są narażone na różne zakłócenia (elektromagnetyczne, termiczne, niestabilne zasilanie itp.). Stąd istotnym jest zapewnienie dużej wiarygodności ich pracy. Problem ten uwidocznił się w produkowanych przelicznikach gazu ziemnego [9]. Dane producenta wskazują na 8% problemów serwisowych (rozdz. 2). Autorzy podjęli się rozwiązania tego problemu poprzez opracowanie programowych mechanizmów autotestowania (SBST) zintegrowanych z oprogramowaniem operacyjnym urządzeń pomiarowych. Pozwalają one monitorować w sposób ciągły (rys. 1) poprawność pracy urządzenia (rozdz. 3). W szczególności wbudowano mechanizm kontroli poprawności i autonaprawy kodu przelicznika, obsługę sytuacji wyjątkowych, autotestowanie krytycznych procedur spreparowanymi zestawami danych itd. (rozdz. 3). Pozwalają one na detekcję zarówno błędów przemijających (i ograniczone ich tolerowanie) jak i błędów trwałych. Efektywność tego rozwiązania została zweryfikowana przy wykorzystaniu techniki symulacji błędów ([1, 3]) oraz generowanie logów operacyjnych i liczników zastosowanych w nowym prototypie przelicznika. W porównaniu z innymi przelicznikami gazu osiągnięto istotną poprawę wiarygodności (rozdz. 4). Przedstawione mechanizmy mogą być zastosowane również w innych urządzeniach z mikrokontrolerami.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Przegląd rozwiązań stanowisk laboratoryjnych stosowanych podczas nauki zdalnej
Overview of the Laboratory Workstation Solutions Used during Remote Learning
Autorzy:: Raczyński, Michał
Biedka, Andrzej
Tematy:: nauka zdalna
układy elektroniczne
systemy wbudowane
mikrokontrolery
remote teaching
electronic circuits
embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/2203476.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: W artykule zaprezentowano szereg praktycznych rozwiązań, które zastosowano by przekształcić stacjonarne stanowiska laboratoryjne (stosowane w ramach dydaktyki szeroko rozumianej elektroniki analogowej, cyfrowej oraz techniki mikroprocesorowej i systemów wbudowanych) do nauki zdalnej. Zastosowane rozwiązania umożliwiły pracę w warunkach możliwie najbardziej zbliżonych do standardowych zajęć stacjonarnych - z wykorzystaniem rzeczywistych układów i przyrządów pomiarowych, a nie jedynie symulacji komputerowej. Przykłady uruchomionych stanowisk laboratoryjnych to: obsługa silnika krokowego, generowanie sygnału PWM, obsługa elementów stykowych, obsługa magistral SPI i I2C, badanie parametrów dynamicznych bramek logicznych, badanie filtrów aktywnych, badanie parametrów dynamicznych klucza tranzystorowego. Cechą charakterystyczną opisanych rozwiązań jest niski nakład kosztów oraz możliwość szybkiego dostosowania stanowiska stacjonarnego do pracy zdalnej i odwrotnie, co było szczególnie istotne w warunkach pandemii koronawirusa w ostatnich latach i dynamicznych zmian formy zajęć (czasami z tygodnia na tydzień). Zaprezentowany zbiór opisów stanowisk laboratoryjnych może być szczególnie przydatny dla pracowników prowadzących zajęcia na uczelniach technicznych, gdzie kwestia przekazania studentom praktycznych umiejętności jest kluczowa.
The paper presents some practical solutions that have been used to convert stationary laboratory workstations (used in the teaching of analog and digital electronics, microcontroller programming and embedded systems) to remote learning. The presented solutions enabled students to work in conditions similar to standard teaching in classroom - using real circuits and measuring instruments. Examples of the laboratory workstations are: stepper motor control, generation of a PWM signal, reading information from switches, using SPI and I2C buses, measuring of dynamic parameters of logic gates, measuring of active filters, measuring of dynamic parameters of a transistor switch. A characteristic feature of the described solutions is the low cost and the possibility of quickly adapting the stationary workstation to remote work (and vice-versa), which was particularly important under the conditions of the coronavirus pandemic in recent years and dynamic changes in the form of teaching method. The presented ideas can be useful for teachers working at technical universities, where the issue of providing practical skills to students is crucial.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
Autorzy:: Czaja, Z.
Załęski, D.
Tematy:: diagnostyka uszkodzeń
BIST
logika rozmyta
mikrokontrolery
elektroniczne systemy wbudowane
fault diagnosis
fuzzy logic
microcontrollers
electronic embedded systems; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/157610.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.
This paper presents employing the fuzzy modeling for faults diagnostic in analog parts of electronic mixed-signal embedded systems utilizing soft and hardware resources of microcontrollers that control these systems. The article introduces additionally the way of creating the fault dictionary, characterizes main parameters of fuzzy faults detection and localisation models and describes the manner of operating on the fuzzy soft decision processor.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
Autorzy:: Czaja, Z.
Tematy:: detekcja i lokalizacja uszkodzeń
samotestowanie
BIST
elektroniczne systemy wbudowane
mikrokontrolery
fault detection and localization
self-testing
electronic embedded systems
microcontrollers; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/153112.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.
In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems
Autorzy:: Załęski, D.
Bartosiński, B.
Zielonko, R.
Tematy:: testowanie
elektroniczne systemy wbudowane
sygnały komplementarne
projektowanie kształtu sygnału
mikrokontrolery
testing
electronic embedded systems
complementary signals
shape design of signals
microcontrollers; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/151489.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: W pracy przedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji układu. Wyzerowanie sygnału odpowiedzi w określonym przedziale czasu po zakończeniu pobudzenia świadczy o sprawności układu. Zaprezentowano wyniki badań symulacyjnych oraz weryfikacji praktycznej metody na przykładzie dolnoprzepustowego filtru 2 i 4 rzędu.
The article presents the idea of using the shape-designed complementary signals for testing analog parts of electronic mixed-signal embedded systems employing limited resources of microcontroller that controls the system. The essence of the proposed method is stimulation of Circuit Under Test (CUT) with particular shape-designed complementary signal which parameters are matched to the nominal position of circuit transmittance poles. Vanishing the CUT response in time and after the moment of finishing the stimulation indicates absence of faults. The paper presents results of simulation researches and practical verification of the method on examples of 2nd and 4th order low-pass filters.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "embedded" wg kryterium: Temat