Temat: AFM microscope - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Mikroskopia Sił Atomowych (AFM)
Autorzy:: Kruk, T.
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
AFM
mikroskop AFM
atomic force microscopy (AFM)
AFM microscope; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2013
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/274222.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Źródło:: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania; 2013, 18, 1; 40-50
1427-5619
Pojawia się w:: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: The method and equipment for precision positioning of the scanner in an atomic force microscope
Metoda i urządzenie do precyzyjnego pozycjonowania skanera w mikroskopie sił atomowych
Autorzy:: Zbrowski, A.
Tematy:: AFM microscope
scanner
initial approach
harmonic drive
eccentric mechanism
mikroskop AFM
skaner
zbliżanie wstępne
przekładnia falowa
mechanizm mimośrodowy; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2013
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/256557.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Źródło:: Problemy Eksploatacji; 2013, 3; 123-133
1232-9312
Pojawia się w:: Problemy Eksploatacji
Opis:: The article presents a method and equipment designed for an initial approach of a sample fixed at a table to a cantilever needle in the atomic force microscope. The presented solution is used in a microscope in which the scanning needle is positioned in the scanning head above the sample. Precise movement of the sample relative to the scanning needle is achieved by a piezoelectric tube. The solution described is designed for the initial approach of the piezoscanner tube with the sample attached under the cantilever needle. The final approach of the sample-needle system is done by manipulating the length of the piezotube. The solution of the initial approach uses an eccentric pushing mechanism with a harmonic drive and a stepper motor. The advantage of this solution is the quick motion of the effector while maintaining the high resolution and precision of positioning and elimination of backlash.
W artykule przedstawiono opracowaną metodę i urządzanie do wstępnego zbliżania próbki zamocowanej na stoliku do igły cantilevera w mikroskopie sił atomowych. Prezentowane rozwiązanie jest stosowane w mikroskopie, w którym igła skanująca znajduje się w głowicy nad badaną próbką. Dokładne przemieszczanie próbki względem igły, w czasie procesu skanowania zapewnia rurka piezoelektryczna. Przedstawione rozwiązanie jest przeznaczone do wstępnego zbliżania rurki piezoskanera z zamocowaną próbką pod igłę cantilevera. Ostateczne zbliżenie układu próbka–igła jest wykonywane poprzez zmianę długości piezorurki. Opracowane rozwiązanie układu zbliżania wstępnego wykorzystuje mimośrodowy mechanizm popychaczowy z przekładnią falową i silnikiem krokowym. Zaletą rozwiązania jest bardzo szybki ruch efektora przy zachowaniu wysokiej rozdzielczości i precyzji pozycjonowania oraz wyeliminowanie luzu nawrotnego.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Ocena stanu powierzchni stali stosowanej na narzędzia chirurgiczne za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM)
Evaluation of the surface condition of steel used for surgical instruments by means of atomic forces microscope (AFM)
Autorzy:: Gwoździk, M.
Tematy:: narzędzia chirurgiczne
powierzchnia stali
mikroskop sił atomowych (AFM)
surgical instruments
steel surface
atomic force microscope (AFM); Pokaż więcej
Data publikacji:: 2009
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/284662.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Źródło:: Engineering of Biomaterials; 2009, 12, no. 89-91; 74-76
1429-7248
Pojawia się w:: Engineering of Biomaterials
Opis:: Prezentowana praca przedstawia wyniki badań stanu powierzchni stali X39Cr13 z gatunku stali stopowych odpornych na korozję stosowanych na narzędzia chirurgiczne. Badaną stal poddano obróbce cieplnej (hartowanie + odpuszczanie) oraz powierzchniowej (azotowanie jarzeniowe). Po zastosowanych obróbkach powierzchnię próbek analizowano za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM).Przeprowadzone badania pozwoliły na ocenę wpływu różnych wariantów obróbek na stan powierzchni poprzez parametr chropowatości.
The paper presents results of surface condition examinations of X39Cr13 steel from the group of corrosion-resisting alloy steels used for surgical instruments. The tested steel was subject to heat (quenching + tempering) and surface (plasma nitriding) treatment. After the treatments applied the specimens surface was analysed by means of atomic forces microscope (AFM).The examinations carried out allowed evaluating the effect of various treatments’ variants on the surface condition through the roughness.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych
STM/AFM microscope for application in industrial advanced technologies and the high schools education
Autorzy:: Majcher, A.
Mrozek, M.
Zbrowski, A.
Olejniczak, W.
Pawłowski, S.
Piskorski, M.
Tematy:: mikroskop STM/AFM
magistrala VME
konstrukcja modułowa
microscope STM/AFM
VME bus
modular construction; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2011
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/256874.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Źródło:: Problemy Eksploatacji; 2011, 3; 177-188
1232-9312
Pojawia się w:: Problemy Eksploatacji
Opis:: W artykule przedstawiono zagadnienia konstrukcyjne związane z budową i oprogramowaniem tunelowego mikroskopu skaningowego oraz mikroskopu sił atomowych. Opracowane urządzenie łączy obydwie funkcje, a dostosowanie do spełniania jednej z nich odbywa się przez wymianę jednej z części głowicy pomiarowej oraz uruchomienia odpowiedniego fragmentu oprogramowania. Z uwagi na przeznaczenie mikroskopu do badań przemysłowych oraz do nauczania podstaw nanotechnologii w szkołach wyższych zostały zastosowane rozwiązania ułatwiające obsługę, a zwłaszcza proces wstępnej regulacji aparatury. Dzięki zastosowaniu modularnej konstrukcji aparatury oraz oprogramowania możliwe jest przystosowanie urządzenia do dalszej rozbudowy rozszerzającej zakres aplikacji.
Construction matters connected with software of scanning tunneling microscope and atomic force microscope have been presented in the article. Those presented devices connect both functions and adaptation of one of the functions which is held by an exchange of one of the parts of the measure heads and by setting an appropriate part of the software in motion. Taking into consideration the fact that the microscope is going to be used in industrial tests as well as to teach basis of nanotechnology at universities, some solutions that made the operation easier have been used - especially the process of initial regulation of the device. Thanks to the implementation of modular construction of the device and the software it is possible to accommodate the device to extend the range of applications.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Interferometer-based scanning probe microscope for high-speed, long-range, traceable measurements
Mikroskop z sondą skanującą na bazie interferometru do szybkich spójnych pomiarów małych przemieszczeń o dużym zakresie
Autorzy:: Vorbringer-Dorozhovets, N.
Manske, E.
Jäger, G.
Tematy:: nanopositioning and nanomeasuring machine
metrological scanning probe microscope
SPM
AFM
maszyna nanopozycjonująca i nanopomiarowa
metrologiczny mikroskop z sondą skanującą; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2014
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/153193.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Źródło:: Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 2, 2; 69-72
0032-4140
Pojawia się w:: Pomiary Automatyka Kontrola
Opis:: The specialty of the metrological SPM-head is the combined deflection detection system for simultaneous acquisition of bending, torsion and position of the cantilever with one measuring beam. The deflection system comprises a beam deflection and an interferometer in such a way that measurements of the cantilever displacement are traceable to the SI unit metre. Integrated into a NPM machine scans with a resolution of 0.1 nm over a range of 25 mm × 25 mm are possible.
W artykule przedstawiono wyniki dotyczące opracowanej i zrealizowanej w Ilmenau University of Technology (Niemcy) maszyny Nano-pozycjonującej (NPM), która zapewnia nanometrową rozdzielczość oraz niepewność 3D pozycjonowania oraz pomiaru w zakresie 25 mm × 25 mm × 5 mm. Jednym ze składowych elementów tej maszyny, od którego zależą jej własności metrologiczne, jest mikroskop z sondą skanującą (SPM) na bazie interferometru, którego koncepcję przedstawiono na (rys. 1). Wykonana według tej koncepcji głowica metrologicznego SPM została zintegrowana z NPM maszyny (rys. 2). Osobliwością głowicy SPM jest system dla jednoczesnej akwizycji ugięcia, skręcania i pozycji belki wspornikowej tylko z jednej wiązki światła (rys. 1). Zostały wykonane badania dokładności pozycjonowania i pomiaru przy różnych szybkościach skanowania obiektu badanego od 1 µm/s do 1 mm/s. Przykładowe wyniki skanowania przedstawiono na rys. 3, 4. W celu wyznaczania jakości tych wyników oraz kalibracji SPM został wykorzystany zestaw wzorców wysokości skokowych z Physikalisch-Technische Bundesanstalt – PTB (rys. 6), oraz wykonane w specjalny sposób wzorce testowych wskaźników odniesienia rozstawionych na stosunkowo dużych odległościach (rys. 7). Uzyskane z SPM wyniki pomiarów wzorców wysokości oraz niepewności tych wyników wykazały bardzo dobrą zbieżność z wartościami wielkości tych wzorców (tab. 1). Wyznaczona powtarzalność wyników jest na poziomie poniżej 0.2 nm. Bardzo dobre wyniki uzyskano przy pomiarach testowych wskaźników odniesienia, powtarzalność wyników pomiaru centrów współrzędnych wskaźników wynosi poniżej 5 nm (tab. 2).
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Analysis of the surface geometry of the orthodontic archwire and their influence on the bacterial adhesion
Autorzy:: Ziębowicz, B.
Woźniak, A.
Ziębowicz, A.
Ziembińska-Buczyńska, A.
Tematy:: archwires
b-Ti
AFM
atomic force microscope
SEM/EDS
confocal microscopy
pitting corrosion
łuk ortodontyczny
mikroskop sił atomowych
mikroskopia konfokalna
korozja wżerowa; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2019
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/366963.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Źródło:: Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering; 2019, 93, 1-2; 32-40
1734-8412
Pojawia się w:: Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering
Opis:: Purpose: The aim of this work is to characterize the surface geometry of the orthodontic archiwire and their influence of the pitting corrosion resistance and bacterial adhesion. Design/methodology/approach: In the paper, the results of the SEM/EDS analysis and microscopic observation of the samples surface and analysis of geometrical structure with the use Atomic Force Microscope (AFM) and Confocal Microscopy were presented as well as the pitting corrosion test and surface roughness and microhardness measurements were performed. Additionally the microbiological study after bacterial breeding with the use Scanning Electron Microscope was carried out. Findings: In the basis of the investigation, it can be concluded that the surface geometry of archwire has a significant impact on their pitting corrosion resistance in artificial saliva solution and on the bacterial adhesion. The obtained results show satisfactory properties and surface geometry of the tested orthodontic wires for use in the human oral environment. Research limitations/implications: In the future, it is planned to extend the research with physicochemical properties and the influence of oral hygiene products on the corrosive behaviour of the material. Limitations in the conducted tests refer to archwire design – a small diameter making measurements difficult. Practical implications: The oral environment is an extremely aggressive corrosive environment. The orthodontic elements should have very good corrosion resistance and biocompatibility. The focus should be on continuously improving orthodontic wires in terms of material quality and topography of its surface topography. Originality/value: The research is conducted in the field of biomedical engineering, which is part of material engineering and is used for the field of dentistry and microbiology.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "AFM microscope" wg kryterium: Temat