Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Vox" wg kryterium: Wszystkie pola


Tytuł:
Structural And Optical Properties Of VOx Thin Films
Własności strukturalne i optyczne cienkich warstw VOx
Autorzy:
Schneider, K.
Tematy:
VOx thin films
reactive sputtering
microstructure
optical properties
energy band gap
cienkie warstwy VOx
rozpylanie magnetronowe
mikrostruktura
właściwości optyczne
przerwa energetyczna
Pokaż więcej
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/353645.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
VOx thin films were deposited on Corning glass, fused silica and Ti foils by means of rf reactive sputtering from a metallic vanadium target. Argon-oxygen gas mixtures of different compositions controlled by the flow rates were used for sputtering. Influence of the oxygen partial pressure in the sputtering chamber on the structural and optical properties of thin films has been investigated. Structural properties of as-sputtered thin films were studied by X-ray diffraction at glancing incidence, GIXD. Optical transmittance and reflectance spectra were recordedwith a Lambda 19 Perkin-Elmer double spectrophotometer. Thickness of the films was determined from the profilometry. It has been confirmed by XRD that the deposited films are composed mainly of V2O5 phase. The estimated optical band gap of 2.5 eV corresponds to V2O5.
Cienkie warstwy VOx były nanoszone na szkło Corning metodą rozpylania magnetronowego rf. Jako katody użyto metalicznego wanadu. Były one nanoszone w komorze wypełnionej mieszaniną argonu i tlenu w różnych proporcjach przy ustalonych przepływach. Zbadano wpływ ciśnienia parcjalnego tlenu w komorze na własności strukturalne i optyczne otrzymanych warstw. Własności strukturalne cienkich warstw zostały określone metodą rozpraszania promieniowania rentgenowskiego padającego pod małymi kątami (GIXD). Widma optyczne transmitancji i odbicia zostały wykonane przy użyciu spektrometru Lambda 19 Perkin-Elmer. Grubość badanych warstw zmierzono za pomocą profilometru. Pomiary XRD potwierdziły, że otrzymane warstwy składają się głównie z fazy V2O5. Wyznaczona optycznie przerwa energetyczna wynosząca 2.5 eV odpowiada przerwie energetycznej V2O5.
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ksiądz Profesor Stanisław Longosz: filolog, patrolog, dydaktyk, założyciel i redaktor Vox Patrum
Rev. Prof. Stanisław Longosz: Philologist, Patrologist, Teacher, Founder and Editor of "Vox Patrum"
Autorzy:
Stępniewska, Alina
Tematy:
Biogram
Biografia
Ks. Stanisław Longosz
Vox Patrum
Biography
Rev. Stanisław Longosz
Pokaż więcej
Wydawca:
Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/613852.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
Life and work of Rev. Prof. Stanisław Longosz
Życie i działalność ks. prof. Stanisława Longosza
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Teologia pastoralna a patrystyka (w przededniu trzydziestej rocznicy istnienia "Vox Patrum")
Pastoral Theology and Patristic (on the Eve of the Thirtieth Anniversary of the Existence of "Vox Patrum")
Autorzy:
Marczewski, Marek
Tematy:
patrystyka
Vox Patrum
teologia pastoralna
Stanisław Longosz
Franciszek Drączkowski
Patristic
Pastoral Theology
Pokaż więcej
Wydawca:
Katolicki Uniwersytet Lubelski Jana Pawła II
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/612590.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
Artykuł omawia zawartość czasopisma "Vox Patrum" pod kątem użyteczności dla teologii pastoralnej oraz ukazuje wpływ i użyteczność patrystyki dla teologii pastoralnej.
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies