- Tytuł:
- The Improvement of Atomic Force Microscope Suitable for Magnetic Domain Structure Measurements
- Autorzy:
-
Sveklo, I.
Dobrogowski, W.
Kisielewski, M.
Maziewski, A. - Tematy:
-
75.70.-i
75.30.Pd
61.16.Ch - Pokaż więcej
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/2013164.pdf Link otwiera się w nowym oknie
- Opis:
- Based on commercial Burleigh METRIS$\text{}^{TM}$-2000 Atomic Force Microscope two methods of magnetic force measurements were realised. The developed system was successfully applied for study of magnetic structure of both YIG-garnet and CoNi/Pt magneto-optic multilayers.
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł