Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Pedagogiczna Biblioteka Wojewódzka im. Komisji Edukacji Narodowej w Lublinie Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaPedagogiczna Biblioteka Wojewódzka im. Komisji Edukacji Narodowej w Lublinie
Zmień bibliotekę

Wyszukujesz frazę "AFM microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Dostawca treści
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-10 z 74
Tytuł:
Wykorzystanie mikroskopii AFM do wizualizacji efektów prac nad otrzymaniem tlenków cyny SNO2
The SNO2 formation proces observation and visualisation using AFM
Autorzy:
Lubańska, Z.
Grudniewski, T.
Chodyka, M.
Tematy:
mikroskopia (AFM)
SnO2
mikroskopia skaningowa
mikroskopia atomowa
STM
AFM
AFM microscopy
scanning microscopy
atomic microscopy
Pokaż więcej
Wydawca:
Instytut Naukowo-Wydawniczy TTS
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/252767.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
W artykule przedstawiono charakterystyki cienkich warstw SnO2 na czystym szkle. Warstwy SnO2 nanoszone były metodą magnetronowego sputteringu (nanoszenie) na podłoże szklane w różnych temperaturach. Wykorzystano do tego urządzenie Magnetron Line 440. Do badania składu i morfologii warstwy użyto mikroskopii skaningowej i atomowej (STM/AFM). Na podstawie badań stwierdzono, że powłoki wykazują dobre połączenie z materiałem podłoża, charakteryzują się zróżnicowaną chropowatością i są jednorodnie chemiczne.
Atomic force microscopy is one of the most popular method used in surface imaging. This method allows to measure the surface topography and determine the dimensions of the structures in the subatomic resolution [1]. Due to its properties, it can be applied to the measurement of conductors and semiconductor surfaces prepared in various processes. The experiment is fo-cused on SnO2 and ITO thin layers which can be used as transparent electrodes [2]. The authors are trying to illustrate the correlation between process parameters - creation of semiconductor in magnetron sputtering by different process conditions (temperature and cooling process, gas pressure and composition), surface of the sample and its other electrooptical parameters.
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of the intermolecular interaction on physico-chemical properties of chitosan/hyaluronic acid blends
Autorzy:
Lewandowska, Katarzyna
Sionkowska, Alina
Grabska, Sylwia
Tematy:
AFM microscopy
chitosan
hyaluronic acid
polymer blends
viscosity interaction parameters
Pokaż więcej
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Polskie Towarzystwo Chitynowe
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1034820.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
In the present study, the results of viscosity measurements in dilute solutions of chitosan (Ch) with hyaluronic acid (HA) are presented. Chitosan is blended with hyaluronic acid in aqueous 0.1M CH3COOH/0.2M NaCl and 0.3M NaCl respectively, or with the addition of HEPES. Viscosity measurements of dilute polymer solution were carried out in an Ubbelohde capillary viscometer. The intrinsic viscosity, [], and the viscosity interaction parameters, bm, have been determined for the binary (solvent/polymer) and ternary (solvent/polymer A/polymer B) systems. The homogeneity and morphology of chitosan blends were ascertained from the tapping-mode atomic force microscopy. The surface roughness of chitosan, hyaluronic acid and Ch/HA blended films was altered by mixing. The obtained results suggested that there was existence of the strong interactions between chitosan and hyaluronic acid.
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badanie cienkich warstw grafitu otrzymanych metodą eksfoliacji
Study of thin graphite layers obtained by exfoliation method
Autorzy:
Bodek, Łukasz
Opis:
In this study the attempt was made to obtain the graphite layers of nanometer thickness using a method of mechanical exfoliation. In the experiment, thin graphite layers were prepared using an adhesive tape and PDMS stamps. Atomic force microscopy (AFM) was chosen as the research method. At the first stage of study thin layers were observed under the optical microscope and selected areas were investigated with AFM. As a result of conducted study a graphene layer was identified.
W niniejszej pracy dokonano próby uzyskania warstw grafitu o grubości rzędu nanometrów używając metody eksfoliacji mechanicznej. W doświadczeniu cienkie warstwy otrzymywano z wykorzystaniem taśmy klejącej oraz pieczątek z PDMS. Jako metodę badawczą obrano mikroskopię sił atomowych (AFM). W pierwszym etapie cienkie warstwy rozpoznawano pod mikroskopem optycznym, a następnie zobrazowano wybrane obszary za pomocą AFM. W wyniku badań zidentyfikowano grafen.
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Autorzy:
Lekka, Małgorzata
Targosz, Marta
Dulińska, Ida
Czuba, Paweł
Strojny, Wojciech
Szymoński, Marek
Balwierz, Walentyna
Opis:
During recent years, atomic force microscopy has become a powerful technique for studying the mechanical properties (such as stiffness, viscoelasticity, hardness and adhesion) of various biological materials. The unique combination of high-resolution imaging and operation in physiological environment made it useful in investigations of cell properties. In this work, the microscope was applied to measure the stiffness of human red blood cells (erythrocytes). Erythrocytes were attached to the poly-l-lysine-coated glass surface by fixation using 0.5% glutaraldehyde for 1 min. Different erythrocyte samples were studied: erythrocytes from patients with hemolytic anemias such as hereditary spherocytosis and glucose-6-phosphate-dehydrogenase deficiency patients with thalassemia, and patients with anisocytosis of various causes. The determined Young's modulus was compared with that obtained from measurements of erythrocytes from healthy subjects. The results showed that the Young's modulus of pathological erythrocytes was higher than in normal cells. Observed differences indicate possible changes in the organization of cell cytoskeleton associated with various diseases.
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Artykuł
Tytuł:
Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis
Autorzy:
Babicz, S.
Smulko, J.
Zieliński, A.
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
harmonics
van der Waals forces
Pokaż więcej
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/199918.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
Motion of a tip used in an atomic force microscope can be described by the Lennard-Jones potential, approximated by the van der Waals force in a long-range interaction. Here we present a general framework of approximation of the tip motion by adding three terms of Taylor series what results in non-zero harmonics in an output signal. We have worked out a measurement system which allows recording of an excitation tip signal and its non-linear response. The first studies of spectrum showed that presence of the second and the third harmonics in cantilever vibrations may be observed and used as a new method of the investigated samples characterization.
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Preliminary investigations of mechanical intermediates in folding of a simple protein I27
Wstępne badania oddziaływań mechanicznych w procesie fałdowania białka I27
Autorzy:
Małek, Katarzyna
Opis:
Mimo ogromnego rozwoju nauk przyrodniczych i ciągłych badań nad procesem fałdowania białek wciąż brak odpowiedzi na wiele zagadnień towarzyszących temu zjawisku. Zagadnienie fałdowania białek jest związane z wieloma chorobami konformacyjnymi, takimi jak rozedma płuc i marskość wątroby oraz z różnymi chorobami neurodegeneracyjnymi, takimi jak: choroby Alzheimera, Parkinsona, Huntingtona i choroby prionowe.Wykorzystanie mikroskopu sił atomowych (AFM) stanowi nową metodę badania procesu rozwijania i fałdowania białek na poziomie pojedynczej molekuły. Używając modów pracy force-extension (FX) i force-clamp (FC) mikroskopii AFM, możliwy jest pomiar siły potrzebnej do rozwinięcia/zwinięcia pojedynczego białka oraz innych właściwości mechanicznych. W eksperymencie FX-SMFS białko jest rozciągane ze stałą prędkością, natomiast w w eksperymencie FC-SMFS białko jest rozciągane ze stałą siła.Używając modu pracy FX i FC-AFM, wykonane przez nas badania prezentują wstępne mechaniczne oddziaływania które mogą wystąpić podczas fałdowania białka I274. To dobrze poznane białko I27 charakteryzuje się jednym typem stryktury drugorzędowej i jest idealnym kandydatem do naszych badań.Inżynieria białek została użyta do skonstruowania, ekspresji oraz oczyszczania białka I274, które składa się z czterech identycznych molekuł I27 połączonych ze sobą. Odpowiednie pofałdowanie białka I274 zostało sprawdzone przez spektroskopię fluorescencyjną oraz spektroskopię dichroizmu kołowego. Analiza FX-AFM pomiarów dostarczyła informacji o jego właściwościach mechanicznych. Następnie mod pracy FC-AFM został użyty do badania zmian długości podczas fałdowania tego białka, umieszczonego pomiędzy ostrzem AFM a podłożem. Analizując fluktuacje długości podczas zwijania białka I274, kilka krótko żyjących sztywności zostało zidentyfikowanych. Te sztywności mogą być związane z mechanicznymi oddziaływaniami które pojawiają się podczas zwijania badanego białka. Fluktuacje podczas fałdowania białka I27 zostały również przeliczone przez szybką transformatę Fouriera (FFT). Wyniki otrzymane z FFT mogą świadczyć o modach własnych drgań białka i mogą być powiązane ze sztywnościami tego białka.
Despite enormous progress in biochemical characterization of proteins and in computer simulations, the process of protein folding is still an outstanding question in biology, physics and chemistry. Problems in protein folding are linked to many conformational diseases, such as emphysema or liver cirrhosis and different neurodegenerative diseases, such as Alzheimer’s disease, Parkinson's disease, Huntington's disease and prion diseases. A novel way of studying unfolding and refolding of biomolecules at the single molecule level is to use the Atomic Force Microscopy (AFM). By using force-extension (FX) and force-clamp (FC) modes of the single molecule force spectroscopy (SMFS) forces necessary to unfold and refold a single protein and some other mechanical properties of proteins can be measured. In the FX-SMFS experiments, proteins are pulled at the constant velocity, whereas in the FC-SMFS experiments polypeptide chains are pulled at the constant force. The studies presented here show the preliminary experimental investigations of mechanical intermediates predicted to occur during refolding of a simple protein I274 using FX and FC-SMFS. Well structurally characterized I27 has only one type of a secondary structure, and is an excellent candidate for such a study. Protein engineering techniques were employed to construct, express, and purify the I274, which comprises four identical I27 molecules connected in tandem. Its proper folding was verified by fluorescence and circular dichroism spectroscopy (CD). The analysis of the FX-AFM traces delivered information about several I274 mechanical properties, such as mean unfolding force, its contour length, and its persistence length. Next, the force-clamp (FC) mode of the SMFS was employed to study length changes associated with folding of the I274 clamped between an AFM tip and a gold substrate. By analyzing the resulting fluctuations of the instantaneous length and compliance during the I274 folding process, several short-lived compliances have been identified. These compliances might relate to intermediates occurring during the I274 folding. Protein length fluctuations during the folding process was also calculated by fast fourier transform (FFT). Results obtained from FFT can provide information about eigenfrequencies of protein and are expected to be related to I27 compliances.
Dostawca treści:
Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego
Inne
Tytuł:
A Comparison between Contact and Tapping AFM Mode in Surface Morphology Studies
Autorzy:
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Rychlik, K.
Tematy:
mikroskopia sił atomowych
AFM
topografia powierzchni
atomic force microscopy (AFM)
surface topography
Pokaż więcej
Wydawca:
Uniwersytet Warmińsko-Mazurski w Olsztynie
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/298112.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
Opis:
The paper presents recent results from studies of a surface topography of a platinum calibration grid on silicon substrate obtained in both contact and tapping modes of the AFM microscope. The results are analyzed in order to determine the influence of the scan set-up and the SPM probe onto estimated fractal parameters and surface anisotropy ratio.
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-10 z 74

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies