- Tytuł:
- Reliability wave in light of the nano development
- Autorzy:
- Way, K.
- Tematy:
-
stress test
nanotechnology - Pokaż więcej
- Wydawca:
- Uniwersytet Morski w Gdyni. Polskie Towarzystwo Bezpieczeństwa i Niezawodności
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/2069588.pdf  Link otwiera się w nowym oknie
- Opis:
- This talk is based on the Editorial of IEEE Transactions on Reliability, December, 2006 and discusses a framework for applying reliability principles and practices to the emerging nano technology fields.
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł