Temat: diffraction grating

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Hyperspectral LWIR measurements with imaging diffraction grating spectrometer and uncooled thermal camera
Autorzy:: Olbrycht, R.
Rzeszotarski, D.
Tematy:: hyperspectral
spectrometer
diffraction grating
thermal camera; Pokaż więcej
Wydawca:: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/114561.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: This paper demonstrates how to perform hyperspectral infrared measurements with uncooled thermal camera and imaging spectrometer. Such thermal cameras are sensitive to wavelengths in the range of 7 – 14 µm (LWIR). There is a description of a diffraction grating based spectrometer with Czerny-Turner optical configuration. To perform hyperspectral acquisition of thermograms it is required to have the camera synchronized with spectrometer, so that recorded frames correspond to known wavelengths. For this purpose the dedicated software was developed and it is also described in this paper, with its operation algorithm. There is a problem of thermal camera drift, and this paper proposes the solution to deal with it. Moreover a description how to obtain transmission plot and exemplary results is presented with the description of measurement rig. In addition, noise related issues are covered and discussed.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A novel trapezoidal profile of optimized diffraction grating for light trapping in thin silicon solar cells
Autorzy:: Dehdast, M.
Bahrami, A.
Mohammadnejad, S.
Tematy:: diffraction grating
light trapping
quantum efficiency
solar cell; Pokaż więcej
Wydawca:: Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/174344.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: In this paper, we propose a new design and comprehensive optimization process for improving the diffraction gratings used as the back reflector of silicon solar cells. For this process, the optimum refractive index and its corresponding available material which can be used as the grating material has been chosen as 1.57 and SiO₂, respectively. Also, all of geometric parameters which affect the performance of the grating, such as periodicity, height and depth of grating profiles have been studied and the appropriate values for each of them have been proposed. In order to optimize the profile of grating, a transition from triangular to rectangular structure has been considered and finally a specific trapezoidal profile has been chosen as the optimized grating back reflector which enhances the cell efficiency up to 6%. Simulation results show that the different grating profiles have the same duty cycle and therefore use the same amounts of materials.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Optical Diffraction Strain Sensor Prepared by Interference Lithography
Autorzy:: Zabila, Y.
Horeglad, P.
Krupiński, M.
Zarzycki, A.
Perzanowski, M.
Maximenko, A.
Marszałek, M.
Tematy:: Strain
direct laser interference patterning
optical strain sensor
diffraction grating
Poisson ratio
Kapton
flexible
optical strain gauge; Pokaż więcej
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1030666.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: An optical strain sensor was developed for use in stretchable electronics. It consists of a diffraction grating formed directly on the examined surface illuminated by a laser beam which creates interference pattern. This pattern can then be used to determine axial and lateral strains for a uniaxial stress states. Direct laser interference patterning was employed as a fast processing tool for the preparation of micro- and sub-microgratings. Two coherent beams of Nd:YAG laser with 532 nm wavelength and pulse duration of 10 ns were used to selectively remove material from the irradiated sample surface. This technique creates periodic pattern on the metallized surface of polymeric substrates. New sensors formed by direct laser interference patterning method were able to resolve higher order diffraction maxima, which would be of benefit for strain measurement application. Experimental setup for tensile tests was composed of laser probe, the sensor element, and CCD camera. To extract strain values, we analysed acquired interference pattern images in real time software, developed with LabVIEW environment. This kind of contactless strain sensor is suitable for examination of stretchable electronics component for which conventional tensile tests are either not acceptable or can interfere with its normal operation.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Cold Atoms Near Metallic Nanostructures
Zimne atomy przy nanostrukturach metalicznych
Autorzy:: Sowa, Piotr
Opis:: Amongst immensely chaotically looking – at first glance – optical elements, placed on self-leveling optical tables in Laboratory of Cold Atoms Near Surfaces, day in, day out studies of interactions between light and cold atoms, or having future aim of such, are being conducted.This thesis contains results of experimental research concerning surface plasmon polaritons excitations on diffraction gratings and of strife with orbital modes in magneto-optical trap (MOT).First two chapters include basic theoretical information about plasmons – their origin and meaning – and also a description of conducted research of their excitation on diffraction gratings – reflective and transmissive ones.A field of plasmons' applications grows constantly: they've found their place i.a. in near-field microscopy, nanowaveguides and biosensors; subsequent technological applications are being investigated. Furthermore, in Laboratory of Cold Atoms Near Surfaces, experiments involving optical dipole mirrors basing on surface plasmon polaritons are being conducted.In chapter 3 ideas connected with trapping and cooling atoms are discussed briefly and experimental proof of atypical arrangement of atoms in MOT possibility is given.An adjustment of the trap in a certain way allows future research of given structures in Laboratory.
Pośród wyglądających na pierwszy rzut oka niezmiernie chaotycznie, rozstawionych na samopoziomujących się stołach elementów optycznych w Laboratorium Zimnych Atomów przy Powierzchni dzień w dzień dokonują się badania oddziaływań światła z zimnymi atomami tudzież do nich w przyszłości mające doprowadzić.Niniejsza praca zawiera wyniki eksperymentalnej pracy związanej z badaniem wzbudzeń polarytonów plazmonów powierzchniowych na siatkach dyfrakcyjnych oraz rezultat zmagań z modami orbitalnymi w pułapce magnetooptycznej (MOT).Pierwsze dwa rozdziały zawierają podstawowe wiadomości teoretyczne nt. plazmonów – ich pochodzenia oraz znaczenia – jak również opis przeprowadzonych badań ich wzbudzania na siatkach dyfrakcyjnych – odbiciowych i transmisyjnej.Pole zastosowań plazmonów konsekwentnie rośnie: znalazły już swoje miejsce m.in. w mikroskopii bliskiego pola, nanofalowodach, czy biosensorach; kolejne zastosowania technologiczne są w trakcie badań. Ponadto, w Laboratorium Zimnych Atomów przy Powierzchni prowadzone są eksperymenty wykorzystujące lustra dipolowe na bazie polarytonów plazmonów powierzchniowych.W rozdziale trzecim przybliżam pokrótce idee związane z pułapkowaniem i chłodzeniem atomów, potwierdzając doświadczalnie możliwość nietypowego rozlokowania atomów w układzie MOT.Wyjustowanie pułapki w określony sposób pozwala na badanie tych struktur w Laboratorium.
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Determination of stress in thin bismuth layers on flexible polymer substrate with use of optical interferometry
Wyznaczanie naprężeń w cienkich warstwach bizmutu na giętkim podłożu polimerowym z użyciem interferometrii optycznej
Autorzy:: Horeglad, Piotr
Opis:: The aim of this study was determination of stresses in thin bismuth layers on flexible polymer substrate with the use of optical interferometry. The measurements were made using a sensor consisting of a diffraction grating formed directly on examined surface illuminated by laser beam. Resulting interference pattern allows determination of longitudinal and transversal strain component.Two methods of diffraction grating preparation were examined. Interference lithography utilizes conventional photolithographic process in which photomask was replaced with interference pattern of two beams of light illuminating the surface. Processing parameters such as light intensity, exposure time and photoresist development time were tuned experimentally using constructed optical setup. Second employed method was direct laser interference patterning using two beams of nanosecond Nd:YAG laser to selectively remove material from sample surface. This technique allowed quick preparation of high quality gratings. Both methods were used to create diffraction gratings on polymer substrate. Obtained structures were characterized by means of scanning electron microscopy.Deformation measurements were carried out using experimental setup consisting of a CMOS camera, sample with diffraction grating and a laser. The sample was mounted in hand-made device allowing for precise deformation control. Determining strain components was performed by analyzing the interference image using program developed with LabVIEW environment.Different methods of determining positions of diffraction maxima on image were compared. The first one utilizes advanced image processing functions to extract areas corresponding to maxima and determines their center of mass. In this case shape of particular maximum has great impact on its reported location. The second algorithm used centroid finding to alleviate this problem by taking into account brightness of pixels forming the maximum. This allows for more precise accuracy of measurements.Experimental results obtained in this study confirm effectiveness of proposed strain measurement method, allowing the determination of both deformations in two directions as well as the Poisson ratio. These data allows calculation of stresses in examined sample. Described method is suitable in experiments in which the use of conventional tensometers is not possible, for example in the characterization of flexible electronics devices.This work was supported by the National Centre for Research and Development within LIDER V program, Poland (project Nr.: LIDER/008/177/L-5/13/NCBR/2014).
Celem pracy było wyznaczanie naprężeń w cienkich warstwach bizmutu na giętkim podłożu polimerowym z użyciem interferometrii optycznej. W pomiarach wykorzystano czujnik składający się z siatki dyfrakcyjnej utworzonej bezpośrednio badanej powierzchni oświetlony wiązką laserową. Powstający obraz interferencyjny pozwala na określenie podłużnej i poprzecznej składowej deformacji.Porównano dwie metody wytwarzania siatek dyfrakcyjnych. Litografia interferencyjna wykorzystuje konwencjonalną fotolitografię, w której fotomaskę zastąpiono wzorem interferencyjnym dwóch wiązek światła padających na powierzchnię. Parametry procesu, takie jak: natężenie światła, czas naświetlania i czas wywołania fotorezystu zostały dobrane eksperymentalnie w specjalnie zbudowanym do tego celu układzie optycznym. Drugą metodą była bezpośrednia interferencyjna litografia laserowa wykorzystująca dwie wiązki światła z nanosekundowego lasera Nd:YAG do selektywnego usuwania materiału z powierzchni próbki. Technika ta pozwala na szybkie przygotowanie siatek dyfrakcyjnych o wysokiej jakości. Obie metody posłużyły do wytworzenia siatek dyfrakcyjnych na podłożu polimerowym, a uzyskane struktury zostały scharakteryzowane za pomocą skaningowej mikroskopii elektronowej.Pomiary odkształceń prowadzone były z wykorzystaniem układu eksperymentalnego składającego się z kamery CMOS, próbki z siatką dyfrakcyjną i lasera. Próbka montowana była we własnoręcznie zbudowanym urządzeniu rozciągającym pozwalającym na precyzyjną kontrolę odkształcenia. Wyznaczanie składowych odkształcenia dokonywane było przez analizę obrazu interferencyjnego z użyciem programu napisanego w środowisku LabVIEW. Porównano dwa algorytmy wyznaczania położeń prążków dyfrakcyjnych na obrazie. Pierwszy z nich wykorzystuje zaawansowane funkcje przetwarzania obrazu do wyodrębnienia obszarów odpowiadających maksimom i określenia ich środków mas. W tym przypadku duży wpływ na znalezione położenie prążka ma jego kształt. Drugi z wykorzystanych algorytmów, wyznaczanie centroidu, pozwala zmniejszyć ten problem poprzez uwzględnienie jasności pikseli tworzących dane maksimum na obrazie osiągając większą dokładność pomiarów.Uzyskane wyniki eksperymentalne potwierdzają skuteczność zaproponowanej metody pomiaru odkształceń pozwalając na wyznaczanie zarówno odkształceń w dwóch kierunkach jak i współczynnika Poissona. Dane te umożliwiają określenie naprężeń w badanej próbce. Opisana metoda może znaleźć zastosowanie w badaniach, w których użycie klasycznych tensometrów nie jest możliwe, na przykład przy charakteryzowaniu giętkiej elektroniki.Praca została przygotowana w ramach projektu LIDER V Narodowego Centrum Badań i Rozwoju (nr. : LIDER/008/177/L-5/13/NCBR/2014)
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Inne

na półce

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Manipulation of atoms near surfaces by means of optical and magnetic potentials
Manipulowanie atomami przy powierzchniach za pomocą potencjałów optycznych i magnetycznych
Autorzy:: Bartoszek-Bober, Dobrosława
Współwytwórcy:: Dohnalik, Tomasz
Dostawca treści:: Repozytorium Uniwersytetu Jagiellońskiego

Książka

na półce

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Improvement of accuracy of simple methods for design and analysis of a blazed phase grating microstructure
Autorzy:: Wang, W.
Jing, X.
Zhao, J.
Li, Y.
Tian, Y.
Tematy:: grating
effective medium theory
scalar diffraction theory; Pokaż więcej
Wydawca:: Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/173533.pdf Link otwiera się w nowym oknie
Opis:: In order to precisely analyze and design the transmittance characteristics of a blazed grating, the validity of both the scalar diffraction theory and the effective medium theory is quantitatively demonstrated. By making a comparison of diffraction efficiencies calculated by the two simplified methods and Fourier modal method, the accuracy can be obtained. It is found that when the normalized period is more than three wavelengths of the incident light, the scalar diffraction theory is useful to calculate the transmittance of the blazed grating within the error of less than 3%. The validity of the scalar diffraction theory increases when the normalized period increases. Importantly, by considering the Fresnel reflection effect, the validity of scalar diffraction theory can be significantly enhanced. Furthermore, when no higher-order diffraction waves appear and only zeroth order diffraction wave propagates, the effective medium theory is accurate to compute the diffraction efficiency within the difference of less than 1% between the zeroth order effective medium theory and Fourier modal method. The polarization characteristics of the validity of effective medium theory are also quantitatively demonstrated. The validity of the two simplified theories is dependent on not only the normalized period of surface microstructure but also the normalized groove depth.
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "diffraction grating" wg kryterium: Temat