- Tytuł:
-
Odporność regresyjnych metod klasyfikacji binarnej na odstępstwa od podstawowych założeń
Raport Badawczy = Research Report ; RB/19/2014 - Autorzy:
-
Olwert, Anna
Hryniewicz, Olgierd (1948– )
Karpiński, Janusz - Wydawca:
-
Instytut Badań Systemowych. Polska Akademia Nauk
Systems Research Institute. Polish Academy of Sciences - Powiązania:
- Raport Badawczy = Research Report
- Opis:
-
[26] pages ; 21 cm
Bibliografia s. [25]
Bibliography p. [25]
[26] stron ; 21 cm
W pracy przedstawiono analizę przydatności klasyfikatorów binarnych, wykorzystujących równania prostej regresji liniowej oraz regresji kwadratowej powierzchni odpowiedzi wykorzystywanych do realizacji zadań klasyfikacji, a także regresji logistycznej, w przypadku złożonych i nieliniowych związków pomiędzy binarną zmienną klasyfikującą i zmiennymi objaśniającymi opisanymi rozkładami różnymi od rozkładu normalnego. W analizie uwzględniono również przypadki, gdy zbiory uczące, na podstawie których konstruowano klasyfikatory, istotnie różnią się od zbiorów testujących (lub danych spotykanych w zastosowaniach). Przeprowadzony eksperyment symulacyjny sugeruje, że w przypadku tego samego modelu opisującego zbiory uczące i zbiory testujące zastosowanie klasyfikatora opartego na kwadratowej powierzchni odpowiedzi daje lepsze rezultaty niż w przypadku zastosowania prostej regresji liniowej. Z kolei, klasyfikatory oparte na prostej binarnej regresji liniowej są bardziej odporne na zmianę modelu danych testujących. - Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka